Bei der Entwicklung von komplexen Baugruppen muss schon während der Designphase die Frage nach den Prüfmitteln berücksichtigt werden um einen möglichst hohen Qualtitätsstandard zu erreichen.

Moderne hochintegrierten Bauteile verfügen heute oft über Möglichkeiten, Prüfverfahren mittels JTAG/Boundary Scan (IEEE Std 1149.x) durchzuführen, um eine möglicht hohe Testabdeckung der Schaltung zu erreichen. Entsprechende Bauteile vorausgesetzt, kann die Programmierung von CPLDs, FPGAs oder FLASH Komponenten auf einer Platine während oder nach dem Produktionsprozess (ISP, In-System-Programming) mittels JTAG durchgeführt werden. Hierdurch entfällt der logistische Aufwand, für diese Bauteile bereits im Vorfeld programmierte Komponenten zu beziehen.

Aus diesem Grund empfehlen wir unter anderem JTAG/Boundary Scan um eine Platinenbestückung oder Baugruppe zu kontrollieren und Bauteile zu programmieren. Im Idealfall lesen wir Ihre CAD-Daten mit der Cascon Galaxy IDE der Göpel electronic GmbH ein und können daraus auf Knopfdruck einen sogenannten Interconnectiontest der - JTAG fähigen - Komponenten generieren.

In Kombination mit unseren JTAG fähigen Testadaptern und IO-Modulen lässt sich dieses Verfahren so erweitern, dass auch die Stecker und Pfosten einer Baugruppe in den Test einbezogen werden. Profitieren Sie von unserer Infrastruktur und der langjährigen Erfahrung im Test- und Prüfmittelbau.

Sprechen Sie uns an, wenn wir Ihr Interesse geweckt haben, wie helfen Ihnen gerne weiter.